Наукова періодика України - НБУВ Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського

Простий
пошук

Розширений
пошук

Покажчики

Професійний
пошук

Рубрикатор
НБУВ

Розподілений
пошук

Бази даних

Наукова періодика України - результати пошуку

Книжкові видання та компакт-диски

Журнали та продовжувані видання

Автореферати дисертацій

Реферативна база даних

Наукова періодика України

Тематичний навігатор

Авторитетний файл імен осіб

	Для швидкої роботи та реалізації всіх функціональних можливостей пошукової системи використовуйте браузер "Mozilla Firefox"

Вид пошуку

Повнотекстовий пошук

Знайдено в інших БД:

Книжкові видання та компакт-диски (6)

Реферативна база даних (3)

Список видань за алфавітом назв:

A B C D E F G H I J L M N O P R S T U V W

А Б В Г Ґ Д Е Є Ж З И І К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Ц Ч Ш Щ Э Ю Я

Авторський покажчик Покажчик назв публікацій

Пошуковий запит: (<.>A=Гімчинський О$<.>)
Загальна кількість знайдених документів : 9 Представлено документи з 1 до 9
1.	Баловсяк С. В. Використання нечіткої логіки на прикладі Web-сайту магазину [Електронний ресурс] / С. В. Баловсяк, О. Г. Гімчинський // Вісник Чернівецького торговельно-економічного інституту. Економічні науки. - 2013. - Вип. 4. - С. 329-335. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Vchtei_2013_4_58 Попередній перегляд: Завантажити - 1.051 Mb Зміст випуску Цитування
2.	Середюк В. Б. Побудова нечіткої моделі оцінки надійності позичальника − фізичної особи [Електронний ресурс] / В. Б. Середюк, О. Г. Гімчинський // Вісник Чернівецького торговельно-економічного інституту. Економічні науки. - 2011. - Вип. 4. - С. 403-409. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Vchtei_2011_4_73 Попередній перегляд: Завантажити - 297.873 Kb Зміст випуску Цитування
3.	Гімчинський О. Г. Рентгеноакустичні дослідження кристалів, опромінених високоенергетичними електронами [Електронний ресурс] / О. Г. Гімчинський // Науковий вісник Чернівецького університету. Фізика. - 1998. - Вип. 30. - С. 91-97. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Nvchnufe_1998_30_19 Попередній перегляд: Завантажити - 99.177 Kb Зміст випуску Цитування
4.	Фодчук І. М. Міжшарова взаємодія у багатошарових структурах InxGa1-xAs1-yNy/GaAs за даними двокристальної Х-променевої дифрактометрії [Електронний ресурс] / І. М. Фодчук, О. П. Кройтор, В. Б. Гевик, О. Г. Гімчинський, В. Б. Молодкін, Є. М. Кисловський, C. I. Оліховський, М. Песса, Е. М. Павелеску // Науковий вісник Чернівецького університету. Фізика, електроніка. - 2003. - Вип. 157. - С. 5-18. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Nvchnufe_2003_157_3 Попередній перегляд: Завантажити - 924.94 Kb Зміст випуску Цитування
5.	Гуцуляк Т. Г. Структурні зміни в кристалах кремнію після високоенергетичного електронного і гамма-опромінення [Електронний ресурс] / Т. Г. Гуцуляк, О. Г. Гімчинський, В. Т. Маслюк, А. В. Олійнич-Лисюк, І. М. Фодчук // Науковий вісник Чернівецького університету. Фізика, електроніка. - 2003. - Вип. 157. - С. 30-38. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Nvchnufe_2003_157_5 Установлено, що у процесі витримки за кімнатної температури упродовж дев'яти років кристали кремнію, опромінені високоенергетичними електронами (E ~ 18 МеВ) у дозах 3,6 та 5,4 кГрей, стали більш однорідними за структурою, ніж у разі опромінення у дозах 1,8 і 2,7 кГрей. Виявлено, що збільшення енергії опромінення призводить до ефективного зменшення структурної неоднорідності за об'ємом зразків та росту (до 50 %) концентрації дрібних за розмірами мікродефектів B-типу (преципітатів <$Eroman SiO sub x>) внаслідок релаксації пружних макродеформаційних полів. Визначено зміну концентрації, розмірів і спектра мікродефектів у кристалах кремнію, опромінених високоенергетичними частинками за умов тривалого природного старіння. Виявлено температурний гістерезис внутрішнього тертя та ефективного модуля зсуву в неопромінених і серії опромінених зразків кремнію. Поява петлі гістерезису взаємопов'язана з взаємодією генетичних мікродефектів з точковими дефектами у кристалі та їх несиметричним розподілом у процесі нагрівання - охолодження зразків. Установлено, що збільшення дози опромінення високоенергетичними частинками призводить до зменшення петлі гістерезису (площі), а за дози 3,6 кГрей до його повного зникнення, зумовленого збільшенням числа стоків для точкових дефектів як дрібних за розмірами (~ 1 - 5 мкм) мікродефектів. Попередній перегляд: Завантажити - 400.487 Kb Зміст випуску Реферативна БД Цитування
6.	Раранський М. Д. Дослідження приповерхневих шарів кремнію після імплантації іонами фосфору [Електронний ресурс] / М. Д. Раранський, І. М. Фодчук, О. Г. Гімчинський, А. В. Євдокименко, З. Т. Свянтек, Д. В. Кадельник // Науковий вісник Чернівецького університету. Фізика, електроніка. - 1998. - Вип. 40. - С. 46-49. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Nvchnufe_1998_40_19 Попередній перегляд: Завантажити - 786.644 Kb Зміст випуску Цитування
7.	Гімчинський О. Г. Рентгенодифракційні дослідження монокристалів Si при накладанні стоячих довгохвильових акустичних коливань [Електронний ресурс] / О. Г. Гімчинський // Науковий вісник Чернівецького університету. Фізика, електроніка. - 1999. - Вип. 57. - С. 73-76. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Nvchnufe_1999_57_16 Попередній перегляд: Завантажити - 537.053 Kb Зміст випуску Цитування
8.	Гімчинський О. Г. Ренгено-акустичні дослідження кристалів Si, опромінених високоенергетичними електронами [Електронний ресурс] / О. Г. Гімчинський, Т. Г. Гуцуляк, В. Б. Гевик, В. Т. Маслюк, М. Д. Раранський, І. М. Фодчук // Науковий вісник Чернівецького університету. Фізика, електроніка. - 2000. - Вип. 92. - С. 20-25. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Nvchnufe_2000_92_7 Попередній перегляд: Завантажити - 485.588 Kb Зміст випуску Цитування
9.	Гімчинський О. Г. Структурна досконалість кристалів кремнію після високоенергетичного електронного опромінення [Електронний ресурс] / О. Г. Гімчинський, Т. Г. Гуцуляк, В. Р. Караушу, П. Є. Мармус, М. Д. Раранський, І. М. Фодчук // Науковий вісник Чернівецького університету. Фізика, електроніка. - 2000. - Вип. 86. - С. 87-91. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Nvchnufe_2000_86_28 Попередній перегляд: Завантажити - 434.661 Kb Зміст випуску Цитування

Відділ наукової організації електронних інформаційних ресурсів

Пам`ятка користувача

Пам`ятка користувача

Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського